ToF-SIMS

Ein ToF-SIMS-Spektrometer dient der Untersuchung und Charakterisierung von organischen und anorganischen Schichten mittels eines Ionenstrahls, welcher die Oberfläche lagenweise ionisiert und abträgt. Die herausgeschlagenen Sekundärionen geben Einblick in die Zusammensetzung und Homogenität der Probe.

Dieses sogenannte Tiefenprofil erlaubt die Charakterisierung von Grenzflächen, wie sie zwischen Substrat und Erstlackierung bzw. zwischen Lackschichten auftreten. Auf diesem Wege lässt sich beispielsweise die Effektivität von Reinungsprozessen und Vorbehandlungen bestimmen.

Ein weiterer Anwendungsschwerpunkt liegt in der Untersuchung von Oberflächendefekten wie Haftungsverlust, Delaminierungen, Kratern und sonstigen Benetzungsstörungen.

Daneben lassen sich auch homogene Proben auf ihre Zusammensetzung untersuchen.

Die Proben können als Filme, Feststoffe, Pulver oder Flüssigkeiten vorliegen, sofern sie vakuumgeeignet sein (d.h. sie dürfen nicht ausgasen). Der Probenhalter verfügt über zwölf Positionen mit einer maximalen Probengröße von jeweils 3 cm auf 3 cm. Größere Proben können auf besondere Anforderung bearbeitet werden.

Unser ToF-SIMS IV stammt von der Fa. IONTOF und ist mit einer Bismut-LMIG sowie einer CS-Sputterquelle bestückt.

Sollten wir Ihr Interesse geweckt haben, erstellen wir Ihnen gerne ein individuelles Angebot.